1000度高溫?zé)崤_(tái) 紅外發(fā)射率測(cè)試 硅片退火爐主要用于在高溫下觀察和分析材料微觀結(jié)構(gòu)的變化。這類設(shè)備能夠在控制的真空或氣氛環(huán)境中加熱樣品至高達(dá)1000度攝氏度，同時(shí)利用顯微鏡進(jìn)行實(shí)時(shí)或?qū)嶒?yàn)后的微觀結(jié)構(gòu)...
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1000度高溫?zé)崤_(tái) 紅外發(fā)射率測(cè)試 硅片退火爐主要用于在高溫下觀察和分析材料微觀結(jié)構(gòu)的變化。這類設(shè)備能夠在控制的真空或氣氛環(huán)境中加熱樣品至高達(dá)1000度攝氏度，同時(shí)利用顯微鏡進(jìn)行實(shí)時(shí)或?qū)嶒?yàn)后的微觀結(jié)構(gòu)...
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超高溫1200℃真空測(cè)試腔 器件高溫測(cè)試系統(tǒng)主要用于在高溫下觀察和分析材料微觀結(jié)構(gòu)的變化。這類設(shè)備能夠在控制的真空或氣氛環(huán)境中加熱樣品至高達(dá)1000度攝氏度，同時(shí)利用顯微鏡進(jìn)行實(shí)時(shí)或?qū)嶒?yàn)后的微觀結(jié)構(gòu)觀...
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1000度高溫?zé)崤_(tái) 真空退火爐 快速升溫爐主要用于在高溫下觀察和分析材料微觀結(jié)構(gòu)的變化。這類設(shè)備能夠在控制的真空或氣氛環(huán)境中加熱樣品至高達(dá)1000度攝氏度，同時(shí)利用顯微鏡進(jìn)行實(shí)時(shí)或?qū)嶒?yàn)后的微觀結(jié)構(gòu)觀察...
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濕度環(huán)境模擬 氣體加濕 氣敏傳感器測(cè)試，可以外接兩種或多種氣體,采用質(zhì)量流量計(jì)控制氣體流量,氣路管道采用316拋光管制作耐腐蝕性強(qiáng).氣路接頭采用全不銹鋼雙卡套快速接頭,方便連接且不易泄漏 系統(tǒng)可耐0...
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渦旋無(wú)油真空泵無(wú)油運(yùn)作：由于干泵在運(yùn)作過程中不需要使用油液，因此避免了油污染，尤其適用于需要干凈或無(wú)污染真空環(huán)境的應(yīng)用，如食品加工、藥品生產(chǎn)和半導(dǎo)體制造等領(lǐng)域。
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小型真空探針臺(tái) 太陽(yáng)能電池測(cè)試夾具，可預(yù)留接口以備安裝電子閥及流量計(jì)之用，充入其它氣體使用，溫度范圍為77.15K至673.15K（-196攝氏度到400攝氏度）
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常溫半導(dǎo)體測(cè)試 氣敏測(cè)試 大氣探針臺(tái)是一種用于半導(dǎo)體器件電性能測(cè)試的重要設(shè)備，通常由精密的機(jī)械結(jié)構(gòu)、高性能的探針針頭和電性能測(cè)試儀器組成。探針臺(tái)可以對(duì)半導(dǎo)體芯片、集成電路和其他微電子器件進(jìn)行直接的電性...
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大氣探針臺(tái) 電信號(hào)測(cè)試是一種用于半導(dǎo)體器件電性能測(cè)試的重要設(shè)備，通常由精密的機(jī)械結(jié)構(gòu)、高性能的探針針頭和電性能測(cè)試儀器組成。探針臺(tái)可以對(duì)半導(dǎo)體芯片、集成電路和其他微電子器件進(jìn)行直接的電性能測(cè)試，從而為...
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環(huán)境敏感性材料真空測(cè)試腔體主要用于氣體敏感材料或其他對(duì)環(huán)境敏感性材料中的電信號(hào)測(cè)試。測(cè)試腔體內(nèi)部裝有不銹鋼加熱承載臺(tái)，臺(tái)面為50x50mm，臺(tái)面最高可升溫到最高350℃。該腔體設(shè)計(jì)有進(jìn)氣口和抽真空接口...
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電信號(hào)測(cè)試真空腔體主要用于氣體敏感材料或其他對(duì)環(huán)境敏感性材料中的電信號(hào)測(cè)試。測(cè)試腔體內(nèi)部裝有不銹鋼加熱承載臺(tái)，臺(tái)面為50x50mm，臺(tái)面最高可升溫到最高350℃。該腔體設(shè)計(jì)有進(jìn)氣口和抽真空接口和2-4...
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